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致茂局部放电测试器MODEL 19501-K

更新时间:2024-03-06

次数:135

厂商性质:经销商

产品型号:

简要描述:
Chroma 致茂局部放电测试器MODEL 19501-K内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(Partial D i s c h a rge, PD)侦测功能于一单机,提供交流电压输出0 . 1 k V~10k V, 漏电流测量范围0.01μ A~300μA, 局部放电侦测范围1pC~2000pC,针对高压半导体组件与高绝缘材料测试应用所设计与开发。
品牌Chroma/致茂产地类别进口
应用领域电子,航天,汽车,电气,综合

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致茂局部放电测试器MODEL 19501-K产品简介

 

Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(Partial D i s c h a rge, PD)侦测功能于单机,提供交流电压输出0 . 1 k V~10k V 漏电流测量范围0.01μ A~300μA 局部放电侦测范围1pC~2000pC,针对高压半导体组件与高绝缘材

料测试应用所设计与开发。

Chroma 19501-K局部放电测试器产品设计符合IEC60270-1法规,针对高电压试验技术中对局部放电测试要求,采用窄频滤波器 (Narrowband)量测技术进行PD放电量测量,并将量测结果以直观数值 (pC) 显示在屏幕上让用户清楚明了待测物测试判定结果。

产品设计上,除了符合IEC60270-1,同时也符合光耦合器IEC60747-5-5VDE0884法规要求,内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内部,满足光耦合器产品生产测试需求,并提供用户便利的操作接口。

于生产在线执行高压测试时,如果待测物未能正确及良好连接测试线,将导致测试结果失败甚至发生漏测的风险,因此在测试前确保待测物与测试线良好连接是非常重要的。Chroma之高压接触检查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之组件,于高压输出时同步进行接触检查,增加测试有效性与生产效率。

在固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层时,额定工作高压状态下,由于较高的电场强度集中于气隙而产生局部放电 (Partial Discharge),持续性的局部放电会长久劣化周遭绝缘材,而影响电气产品之长久信赖性,而引起安全事故。

应用于电源系统之安组件,如光耦合器,因考虑如果组件长时间发生局部放电对于绝缘材料的破坏,而发生绝缘失效的情况,进而引发使用者人身安全问题;因此,在IEC60747-5-5法规中提及,于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行局部放电 (Partial discharge) 检测,在最大绝缘电压条件下不能超过5pC放电量,确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。

局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受力之组件,提供高压的耐压测试与局部放电侦测,确保产品质量与提升产品可靠度。

 

致茂局部放电测试器MODEL 19501-K特点

 单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

 可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac

 高精度及高分辨率电流表 0.01μA~300μA

 局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC

 高压接触检查功能( HVCC)

 符合IEC60747-5-5VDE0884IEC 60270法规测试要求

 内建IEC60747-5-5测试方法

 量测与显示单元分离式设计

 三段电压测试功能

 PD测量结果数值显示 (pC)

 PD不良发生次数判定设定 (1~10)

 多语系繁中/ 简中/英文操作接口

 USB画面撷取功能

 图形化辅助编辑功能

 标准LANUSBRS232远程控制接口


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