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超级电容模组PACK容量内阻测试仪N5831

更新时间:2024-01-22

次数:246

厂商性质:经销商

产品型号:

简要描述:
恩智分布式超级电容模组PACK容量内阻测试仪N5831系列为NG公司针对超级电容研发和生产而自主设计开发的超级电容模组/PACK容量内阻测试仪。N5831系列可对超级电容充电容量、放电容量、充电等效串联内阻(DCIR)、放电等效串联内阻(DCIR)、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。
品牌NGI/恩智产地类别国产
应用领域能源,电子,汽车,电气,综合

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分布式超级电容模组PACK容量内阻测试仪N5831系列简介

同系列型号:N5831-05-300 N5831-12-250 N5831-25-120 N5831-50-60 N5831-100-30

 

N583系列为NG公司针对超级电容研发和生产而自主设计开发的超级电容模组/PACK容量内阻测试仪。N5831系列可对超级电容充电容量、放电容量、充电等效串联内阻(DCIR)、放电等效串联内阻(DCIR)、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N5831系列可提供多种测试方法,用户可根据需要灵活选择。N5831系列上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCELJPG文件。

 

分布式超级电容模组PACK容量内阻测试仪N5831系列产品特点

■  电压范围:0-200V

■  电流范围:0-1200A

■  转换速度快,恒压恒流过程转换速度高达1ms

■  超高测试精度

■  支持用户自定义测试流程

■  智能测试步骤编辑,提高配置效率

■  多通道集中控制,通道间独立运行

■  超高采样速度,最高采样速度高达1ms

■  DCIR测量支持多种主流模式,应用灵活

■  支持分选功能,客户可根据自己规格指标设定分选等级

■  标准19英寸机箱,节省宝贵空间

■  兼容A/hW/hF等多种容量测试方法

 

功能与优势

img2硬件设计特色

img3多种型号与功率-满足各种测试需求

1)具有多种规格可供选择:电压范围:0-200V,电流范围:0-1200A,功率范围:0-200kW
2)模块化设计方式,功率可按需求配置

3)丰富的测试夹具与功率范围,支持各类电池单体与电池模组测试
4)电压输出基本精度:0.05%,电流输出基本精度:0.05%

img4高频采样测量技术-提高测量准确度


电压电流采样率高达1mS

一般电池充放电测试器使用软件记录值来计算电容量与能量,然而有限的数据采样率在计算动态电流时会导致较大误差;通过提高V/I采样率能够以更高的精确度提供容量计算。当电流瞬间变化时,数据不失真,传输速度不受影响。

img5支持多种电池夹具-方便各种用户的测量

N5831系列超级电容容量内阻测试仪提供四类电池夹。通用型夹具,适用于夹持各类圆柱形电池;科研用夹具(含大电流设备使用夹具),用鳄鱼夹将充放电电极、测量电极全部引出,可夹持任意种类研究用异型原电池;聚合物电池专用夹具;扣式电池专用夹具。采用电池夹与仪器相对隔离的机柜结构,配合仪器本身提供硬件软件保护,提高系统安全性,使用户的无忧测试得以保证。另外电池夹具与机柜相对隔离的机柜结构使对电池恒温测试易于实现。

img6充转放过程无过充,响应速度快

采用精密的设计电路,保证充放电过程快速,精确。充电过程中恒流充点转恒压充电无过充,能保护被测产品,防止由于过程导致测试结果不准或样品损毁等情况。恒压充电转恒流无缝切换,结合1ms高速采样,真实还原出产品测试过程,满足用户测试QC/T741、六步法、充转放法对直流等效内阻(DCIR)的测试要求。

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img8支持四电极测量-降低电压测量误差

所有电池夹具均为4电极,2个输出电极用于提供测试电流,另2个测量电极用于测量电池电压。多电极测量不仅提高测量精度,而且支持参比电极测试,适合于电极材料的研究使用。

img9支持多路温度采集

N5831全系列支持16路温度采集,可根据各种NTC规格参数,满足用户对超级电容包内部温度的实时监控,确保产品在测试过程中安全稳定。

img10软件设计特色

▲ N5831测试软件采用平台化设计,用户可根据工艺需求自行定制测试流程。
▲ Office界面风格,支持电压电流波形绘制,可以以表格形式显示,结果等诸多元素,使得这款专业软件在具备强大测试 功能同时,兼具美观易用优点。
▲ 设计有功率限制电路,反应时间极短,可有效保护负载不会因为过功率而损坏。
▲ 采用全屏蔽技术,对恶劣测试环境具有广泛适应性,有效提高了负载抗干扰能力。

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img12容量测量

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img14直流内阻(DCIR)测试

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img16寿命测试

N5831可通过重复充放电循环测试,测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线,用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

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产品尺寸

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