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致茂射频 LCR表MODEL 11090-030

更新时间:2024-03-06

次数:124

厂商性质:经销商

产品型号:

简要描述:
Chroma 致茂射频 LCR表MODEL 11090-030产品提供贴片电感及射频滤波器等被动组件高频量测评估解决方案。其高达300MHz的测试频率,对于POL或一般小型DC-DC Converter之电感组件,不仅满足日益增高的标称频率测试外,更可满足需要于超高频检测才能测出之质量异常。此外,同样能满足如EMI-Filter、Ferrite Bead等惯用的100MHz阻抗测试需求。
品牌Chroma/致茂产地类别进口
类型智能LCR测量仪应用领域电子,航天,汽车,电气,综合

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致茂射频 LCRMODEL 11090-030产品简介

 

Chroma 11090-030 射频LCR表为一提供贴片电感及射频滤波器等被动组件高频量测评估解决方案。其高达300MHz的测试频率,对于POL或一般小型DC-DC Converter之电感组件,不仅满足日益增高的标称频率测试外,更可满足需要于超高频检测才能测出之质量异常。此外,同样能满足如EMI-FilterFerrite Bead等惯用的100MHz阻抗测试需求。

涵盖量测项目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各种被动组件测试所需的主、副参数。100kHz~300MHz的宽广测试频率范围,采用RF式电流电压转换技术,其优于网络分析仪技术的阻抗量测范围,高于自动平衡桥技术的频率量测范围,适合研发与品保单位分析被动组件于不同频率下的特性。此外,搭载超低噪声、低谐波失真讯号产生模块,赋予量测讯号高质量纯净度,进而提升阻抗测试的准确性。

0.8%的基本量测准确度使量测结果呈现高稳定性与高可靠性,0.5ms的快速量测可搭配自动化机台,能有效率地大幅提高产量。符合多种小型的SMD测试治具,采用改进的下压方式,可旋转90度并仅需三个步骤来更换待测物 (实际测试约40),能替使用者减少更换不同尺寸待测物的时间、加快测试速度、免除反复拆装限位垫片,进而减少损耗与后续客户的维护费用。

Chroma 11090-030 射频LCR表藉由全面性设计的规格考虑与重点式的功能强化,不论是在产品特性研发与分析、自动化产线快速测试或是各式零件进出料管理,皆为完善的测试解决方案,为您提供市场上少数既有解决方案之外全新的选择。

 

重点规格

 测试参数: Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q

 测试频率:100kHz~300MHz

 量测范围:100mΩ~5kΩ

 量测速度:0.5/0.9/2.1/3.7 (ms)

 基本准确度: ± 0.8% % (typical ± 0.45%)

 测试输出能量:-40~1 (dBm)

 量测模式:单点 (Point) /多点 ( List)

 测试讯号 (Vm,lm) 监测功能

 比较与分类(13bins)选别功能

 接触检查 (Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

 开短路校正与加载补偿功能

 标准接口:HandlerRS-232CGPIBLANUSB(A & B type)

 

特点

 宽的测试频率 : 100kHz~300MHz

 快速的测试速度:0.5ms/point

 多样性的功能

校正/补偿状态指引

提供磁性组件以Rdc 为接触检查

多参数比较与分类功能

– ~401 点多点测试与曲线绘图功能

清晰与引导式操作

 操作快速的SMD测试治具(TW M621845/CN 216013502U)

 

致茂射频 LCRMODEL 11090-030应用领域

 SMD电感(压模电感/积层电感/磁珠等)

 EMI共模线圈

 其他被动组件


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