天瑞Skyray EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪

天瑞Skyray EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪

产品说明、技术参数及配置

EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

仪器配置

01 独立的X/Y/Z轴控制系统

02 微焦斑X光管

03 可变高压电源

04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护

05 Fast-SDD探测器

06 双激光定位装置

07 标配可自动切换的准直孔和滤光片

软件优势

1、清晰化操作界面布局

简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。

2、快捷键按钮设计

增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。

3、高清可视化窗口

可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户要求的观测效果。

4、多通道数字谱图界面

清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,便可精准计算出结果。

5、测试结果汇总布局设计

可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。

天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪应用行业：

航天新能源

电子通讯

电镀行业

高校及科研院

贵金属镀饰

磁性材料

天瑞Skyray EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪